一、导波雷达物位计测量原理
低强度电磁脉冲以纳秒级宽度被发射并沿着刚性或柔性的导体以光速行进，当脉冲接触到介质表面时被反射。反射信号被仪表接收，发射脉冲与接收脉冲的时间间隔与基准面到被测介质表面的距离成正比。通过测量发射与接收的时间间隔，来实现基准面至被测介质表面距离的测量。

①时间1：产生初始脉冲
②时间2：沿导体向下行进，速度 C（光速）
③时间3：脉冲遇到被测介质表面发生反射
④时间4：反射脉冲被接收，并被处理器记录
⑤脉冲信号从被发射到被接收之间的时间差 T，与基准面到介质表面的距离 D 成正比：D=C×T/2
⑥测量的基准面是： 螺纹底面或法兰的密封面
⑦A:量程 B:低位 C:满位 D:盲区
⑧运行时，保证最高料位不能进入测量盲区D
二、导波雷达物位计技术优势
1、更高的动态信号和更窄的脉冲带来更高精度与重复性；
2、低介电常数介质的最佳选择；
3、能量集中，具有更强抗干扰能力，大大提高了可靠性；
4、测量盲区更小，对于小罐测量也会取得优异效果；
5、测量灵敏、刷新速度快、安装简便、牢固耐用、免维护；
6、几乎不受温度、压力、水蒸汽、泡沫、粉尘等复杂工况的影响；
7、采用两线制回路供电的技术，供电电压和输出信号通过一根两芯电缆传输，节省成本；
8、采用先进微处理器和独特回波处理技术，可适用于各种复杂工况；
9、发射功率极低，可安装于各种金属、非金属容器内，对人体环境没有无伤害；
10、带有按键的显示屏可方便设置仪表的参数；
11、更小的体积，减少安装难度；
三、导波雷达物位计技术规格
1、特征参数

2、过程连接

3、输出参数